Collaudo di schede elettroniche: le differenze tra D4T e D4M

Nell’ingegneria elettronica, il testing è un aspetto fondamentale in fase sia di progettazione che di produzione: l’individuazione tempestiva di difetti, guasti ed errori permette di migliorare la qualità del prodotto finale e di ridurre la necessità di intervenire successivamente in ottica correttiva, con i conseguenti costi in termini di tempo, denaro e perfino reputazione, se il progetto è già stato consegnato al cliente.

Ci sono due tipi di approcci al testing industriale effettuato tramite banchi di collaudo: il Design for Testability (D4T) e il Design for Manufacturing (D4M).

Il Design for Testability impiega differenti tecniche finalizzate al collaudo di schede elettroniche in corso di progettazione, introducendo i mezzi per effettuare questa operazione oppure ottimizzando quelli già impiegati.

Tra le tecniche più utilizzate c’è lo scan, che prevede il rimpiazzo degli elementi di memoria con apposite celle, collegate in catene attraverso il cosiddetto stitching, che operano in tre modalità: normale, in cui il sistema opera in funzione della sua configurazione originale, scansione, in cui vengono inseriti o estratti dati nelle catene, o cattura, in cui viene analizzata la risposta della catena al test. Lo scan permette la progettazione automatica, consente la combinazione dei moduli gerarchici per progetti più complessi e offre un’alta copertura dei guasti. Le specifiche di collaudo variano da caso a caso, perciò è necessario realizzare strumenti e definire processi fin dalle prime fasi della progettazione con un approccio su misura. Il Design for Manufacturing individua strumenti e processi per verificare la resa di sistemi e apparecchiature in funzione delle specifiche dei circuiti e dei modelli di performance e di guasto. L’approccio più comunemente usato è l’Automatic Test Pattern Generation (ATPG), che prevede la generazione di vettori di test randomici e la simulazione di guasti per valutare l’effettiva copertura del vettore e intervenire fino al raggiungimento di livelli ottimali.

L’attività di progettazione e realizzazione di banchi di collaudo rappresenta l’essenza di CR&C, che viene applicata a tutti i settori su cui siamo specializzati: offriamo così soluzioni di testing per apparecchiature di telecomunicazione, testing di apparecchiature industriali, burn in test e collaudo di schede elettroniche e di strumentazione RF ad alta frequenza radio, per citarne alcune.

Progettiamo soluzioni Industry 4.0 capaci di soddisfare tutte le esigenze di test: in particolare, siamo specializzati in Design for Testability (D4T), Design for Manufacturing (D4M), Automatic (ATE) Test Benches development e Semi Automatic Test Benches development: scopri di più contattandoci.

Collaudo di schede elettroniche: le differenze tra D4T e D4M

Articoli correlati

Ti potrebbero interessare

Tutte le news
Come effettuare il collaudo per la resistenza all’alta tensione
Scopri di più
Il ruolo del testing nell’ingegneria elettronica
Scopri di più